/ Spektrometry i spektrofotometry / Spektrometry światłowodowe / Gotowe zestawy pomiarowe / Cienkie warstwy

Cienkie warstwy

OPIS PRODUKTU
BROSZURY
Pola oznaczone (*) są obowiązkowe

Wyrażam zgodę na przetwarzanie moich danych osobowych przez Spectro-Lab (Administratora danych) zgodnie z Polityką Prywatności. Mam prawo dostępu do danych, sprostowania, usunięcia lub ograniczenia przetwarzania, prawo sprzeciwu, prawo wniesienia skargi do organu nadzorczego lub przeniesienia danych. (*)

Wyrażam zgodę na przesyłanie przez Spectro-Lab (Administratora danych) informacji handlowych, marketingowych i promocyjnych środkami komunikacji elektronicznej przez cały okres współpracy lub do czasu jej odwołania przeze mnie. Zgoda jest dobrowolna.

Spectro-Lab informuje również, że posiadanie dane osobowe nie są i nie będę przedmiotem sprzedaży czy udostępnienia osobom i podmiotom trzecim.

ZAPYTAJ O PRODUKT

Zestaw pozwalający na pomiar pojedynczej cienkiej warstwy lub filmu. Zawiera sondę odbiciową oraz uchwyt do przeprowadzenia pomiarów. System pozwala na pomiar warstw o grubości od 10nm do 50um z rozdzielczością 1nm. Spektrometr pracuje w zakresie 200-1100nm.

Zastosowanie:

Półprzewodniki

Panele słoneczne

Powłoki

Numer katalogowy zestawu: Ava-ThinFilm

Spektrometr AvaSpec-ULS2048-USB2 Grating UA (200-1100nm)
100 μm slit, DCL-UV/VIS, DUV coating, OSC-UA
AvaSoft-Thinfilm

Źródło światła Avalight-DHc zasilacz PS-12V/1.0A

Sonda odbiciowa FCR-7UV200-2-ME

Dodatkowo ThinFilm stage & standard

Informacje