XRF Spektrometria rentgenowska XRF
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej ARL QUANT’X EDXRF z dyspersją energii pozwalający na wykonywanie analiz zgodnych z dyrektywą RoHS – WEEE
ARL QUANT’X EDXRF jest spektrometrem rentgenowskim XRF zaprojektowanym z myślą o najwyższych wymaganiach analitycznych w laboratoriach oraz przemyśle, m.in. do badań środowiskowych takich jak analiza pyłów pobieranych na filtrach, zanieczyszczenia gleb, zawartości toksycznych pierwiastków w tworzywach sztucznych, jak również w medycynie sądowej, analizie żywności i w przemyśle półprzewodników i materiałów magnetycznych.
- spektrometr XRF ARL Quant X posiada detektor Si (Li) z chłodzeniem Peltier’a z rozdzielczością <155 eV przy 5.9 KeV i 10000 cps
- spektrometr rentgenowski ARL Quant X wyróżnia unikalna, cyfrowa obróbka sygnału (DPP)
- niezrównana czułość przy analizie śladowej od Na do U (Na – U)
- spektrometr rentgenowski z dyspersją energii ARL Quant x to jedyny w świecie EDXRF przełamujący barierę 1 ng granicy wykrywalności
- spektrometr XRF ARL Quant X to najwyższa przepustowość pomiarów
- największa elastyczność w obróbce próbek
- spektrometr fluorescencji rentgenowskiej ARL Quant X posiada automatyczny, 10 i 20 pozycyjny zmieniacz próbek, umożliwiający pomiar standardowych naczyń do płynów i materiałów sypkich, oraz szereg innych uchwytów do próbek o nietypowych kształtach.
- spektrometr XRF ARL Quant X ma możliwość powiększenia komory pomiarowej, aby w pełni wykorzystać nieniszczący charakter EDXRF w badaniu nawet największych próbek (do 37 cm wysokości)
- spektrometr rentgenowski ARL Quant X ma możliwość badań w próżni lub możliwość przedmuchu aparatu (Ar, He, N2) w przypadku analizy próbek ciekłych oraz lekkich pierwiastków w próbkach lotnych oraz łatwo utleniających się.
- spektrometr EDXRF ARL Quant X wyróżnia regulacja szerokości wiązki rentgenowskiej od 15 mm do 2mm, dając możliwość badania niewielkich rozmiarów próbek oraz śladów
- spektrometr XRF ARL Quant X cechuje mechaniczna prostota i niezawodność (jedna ruchoma część komorze pomiarowej)
- niewielkie rozmiary zapewniające łatwość transportu spektrometru dla pomiarów w terenie.
- szybka i łatwa instalacja
Oprogramowanie WinTrace i Uniquant umożliwia przeprowadzenie analiz składu pierwiastkowego w trybie m. in:
- analizy jakościowej (bezwzorcowej)
- analizy półilościowej („semi”-bezwzorcowej)
- analizy ilościowej z dowolną ilością wzorców.
- badania grubości wielowarstwowych powłok i ich składu bez ograniczeń dotyczących ilości pierwiastków i wzorców
Zobacz akcesoria do przygotowania próbek do EDXRF: Apex oraz prasy hydrauliczne