TeraPulse 4000

  • ZAPYTAJ O PRODUKT

Najnowszy model firmy TeraView – TeraPulse 4000 jest następcą pierwszego na świecie komercyjnego spektrometru terahercowego – TPS Spectra 3000. Aparat ten oferuje równie szerokie możliwości co jego poprzednik, jednak cały system został zintegrowany do znacznie mniejszej jednostki. Dzięki niewielkim rozmiarom i wytrzymałej konstrukcji aparat ten może znaleźć zastosowanie zarówno w niewielkim laboratorium jak i na hali przemysłowej.

Dzięki zastosowaniu specjalnej technologii półprzewodnikowej, będącą własnością TeraView, aparat gwarantuje niezrównaną czułość pomiarową w zakresie częstotliwości do 4 THz. W praktyce dla większości materiałów dobrą czułość uzyskuje się nawet do 4,5 THz lub 7 THz po rozbudowie.

Spektrometr charakteryzuje budowa modułowa, jest on również w pełni kompatybilny ze wszystkimi dostępnymi akcesoriami TeraView, co pozwala Użytkownikowi szybko i oszczędnie rozbudowywać i rozszerzać możliwości aparatu.

TeraPulse 4000 jest w pełni zgodny ze wszystkimi akcesoriami dostępnymi w ofercie TeraView. Sam aparat ma charakter modułowy, a poszczególne przystawki i akcesoria są automatycznie rozpoznawane przez aparat.

Cechy:

  • Możliwość pomiarów transmisyjnych i odbiciowych próbek stałych, cieczy, zawiesin i cienkich warstw.
  • Zakres spektralny : 0.06 THz do 4 THz (2 cm-1 – 120 cm-1)
  • Możliwość stosowania standardowych akcesoriów do klasycznej podczerwieni
  • Dostępny moduł ATR do pomiarów próbek rzędu 1 mg
  • Źródło promieniowania w fazie stałej i detektor pracujące w temperaturze otoczenia

Moduły (Analogiczne jak w TPS Spectra 3000)

Moduł obrazowania w trybie odbiciowym
Moduł ten wyposażony jest w zmotoryzowany stolik przystosowany do próbek o rozmiarze do 100mm × 100mm. Możliwość skanowania obszaru o powierzchni do 80mm × 80mm z definiowanym przez użytkownika odstępem między punktami pomiarowymi. Głębokość penetracji próbki do 3 mm. Oprogramowanie umożliwia m.in. mapowanie grubości oraz generowanie obrazów przekrojów poprzecznych analizowanego materiału.

TPI Imaga 2000 – System obrazowania 3D powierzchni i wnętrza tabletek
Pierwszy wprowadzony na rynek system zoptymalizowany do przeprowadzania całkowicie nieniszczących badań 3D – 360° powłok oraz wnętrza tabletek i innych stałych postaci leków. System współdziała ze spektrometrem terahercowym TPS spectra 3000. Dzięki nowatorskiemu rozwiązaniu z zastosowaniem ramienia robota możliwe jest w pełni automatyczne badanie tabletek o dowolnej geometrii powierzchni. System ten dedykowany jest do badania grubości, jednorodności, rozkładu i stopnia pokrycia zarówno prostych, jak i złożonych powłok. Możliwe jest wykrywanie i obrazowanie takich cech strukturalnych jak: pęknięcia, przemieszczenia, rozwarstwienia w jedno i wielowarstwowych wnętrzach tabletek.

Przystawka transmisyjna
Umożliwia mapowanie X-Y w trybie transmisyjnym. Zmotoryzowany stolik pozwala rejestrować widma z precyzyjnie wyznaczonych punktów badanej próbki. Zmiany widma w różnych miejscach identyfikowane są za pomocą specjalnego oprogramowania. Maksymalna powierzchnia skanowania wynosi 19mm × 19mm z odstępami próbkowania od 50 µm do 500 µm.

Przystawka odbiciowa – specular reflectance
Służy do rejestracji promieniowania odbitego od powierzchni próbki pod kątem padania 45°. Przystawka ta znajduje zastosowanie do badań próbek krystalicznych, półprzewodnikowych oraz polimerów.

OptistatCF  – kriostat
Zaprojektowana do przeprowadzania badań z zakresu fizyki materiałów i materii skondensowanej. Przystawka ta daje sposobność zastosowania spektroskopii terahercowej w badaniu materiałów takich jak półprzewodniki, czy nadprzewodniki w szerokim zakresie temperatur.
Zakres temperatury: 2.3 – 300 K (w opcji do 500 K)
Stabilność temperatury: ± 0.1 K (w przedziale 10 minut)
Maksymalna średnica próbki: 20 mm
Czas chłodzenia do 4.2 K: 25 min
Pobór helu przy chłodzeniu od temperatury otoczenia do 4.2 K: 1.5 litra
Pobór helu przy temperaturze 4.2 K: 0.55 l/h

Przystawka ATR
Pierwsza komercyjna przystawka ATR zoptymalizowana do pracy w zakresie terahercowym. Dostępna w wersjach 35° oraz 45°. Zaprojektowana do badań m.in. ciał stałych, żeli i proszków, które umieszcza się bezpośrednio na krysztale ATR. Przystawka ta znajduje zastosowanie w badaniach zawartości fazy krystalicznej w próbkach amorficznych, detekcji i identyfikacji form polimorficznych, jednorodności materiałów, przejść fazowych pod wpływem temperatury (opcja celi temperaturowej) oraz wielu innych.

Moduł obrazowania dużych próbek
Umożliwia przeprowadzanie pomiarów spektroskopowych i obrazowania obiektów o powierzchni do 1m × 1m. Detektory i emitery mogą być konfigurowane dzięki optyce światłowodowej montowanej na specjalnej konstrukcji. Moduł dostosowany jest do badań nieniszczących w trybie transmisyjnym oraz odbiciowym.

Terahercowa sonda medyczna
Ponieważ promieniowanie terahercowe jest całkowicie bezpieczne dla tkanek organizmu, sonda ta znajduje zastosowanie w obrazowaniu medycznym. W szczególności sonda medyczna Teraview jest stosowana w detekcji nowotworów, gdzie rozpoznanie następuje na podstawie kontrastu między zdrowym obszarem skóry, a zmianami nowotworowymi. Sonda umożliwia rejestracje trójwymiarowych map obszarów znajdujących się pod powierzchnią skóry z rozdzielczością powierzchniową 20 µm oraz wgłębną 40 µm. System wykorzystuje impuls femtosekundowego lasera, który doprowadzany jest przez światłowód do głowicy sondy. W głowicy znajduje się emiter oraz detektor promieniowania terahercowego.

  • Zakres widmowy promieniowania: 0.1 – 2 THz
  • Stosunek sygnału do szumu: ~10 000:1 dla 1 THz
  • Rozdzielczość boczna: ~1 mm (1 THz)
  • Prędkość skanowania: do 8 linii/s

Zdalny terahercowy system wykrywania materiałów wybuchowych
System ten zaprojektowany jest do detekcji oraz identyfikacji materiałów energetycznych. Składa się z osobnego modułu współpracującego z terahercowym spektrometrem impulsowym TPS spectra 3000. Moduł wyposażony jest w automatyczny system ładowania próbek umożliwiający zdalną pracę, nie wymagającą ciągłej obecności użytkownika w trakcie procedury pomiarowej.
Podstawowe zastosowania:

  • Ocena i identyfikacja materiałów wybuchowych oraz ukrytej broni
  • Charakteryzacja materiałów wybuchowych przy użyciu przystawek odbiciowych
  • Możliwość badania materiałów gazowych
  • Zdalne badanie zawartości kopert i paczek papierowych

Moduł światłowodowy
Zewnętrzny moduł światłowodowy z możliwością montażu na stole optycznym. W zależności od przyjętej geometrii montażu głowic modułu możliwy jest pomiar transmisyjny lub odbiciowy pod wybranym przez użytkownika kątem.

EOTPR 2000 – system impulsowej reflektometrii terahercowej
Opracowany we współpracy z firmą Intel system TDR (Time Domain Reflectometry) dedykowany do wysokorozdzielczej detekcji i analizy defektów w trójwymiarowych strukturach półprzewodnikowych. System ten umożliwia identyfikację oraz szybką izolację defektów na złączeniach z rozdzielczością 10 µm oraz redukuje czas badań z dni do godzin lub minut. Możliwa jest identyfikacja słabych złączeń mogących w przyszłości prowadzić do uszkodzeń materiału półprzewodnikowego.

CW Spectra 400 – Terahercowy spektrometr pracy ciągłej z możliwością obrazowania
Wolnostojący spektrometr terahercowy stanowiący najnowsze rozwiązanie obecne na rynku. Generuje on falę ciągłą strojoną w zakresie terahercowym. Posiada światłowodowy nadajnik i odbiornik oparte na opatentowanej technologii optycznego mieszania fal w zakresie terahercowym. Zastosowanie unikalnych technologii zapewnia wysoką stabilność działania bez potrzeby częstego justowania. Spektrometr ten umożliwia wysokorozdzielczą analizę gazów, szkodliwych czynników lotnych w powietrzu, wysokoczęstotliwościową charakteryzację materiałów elektronicznych, biologicznych, farmaceutycznych, meta- i nano-materiałów, jak również nieniszczącą analizę dla potrzeb przemysłu (pęknięcia, rozwarstwienia i inne defekty) i bezpieczeństwa (materiały wybuchowe).Możliwość prowadzenia badań w trybie zarówno transmisyjnym, jak i odbiciowym.

Opcja obrazowania w wybranym przez użytkownika zakresie widmowym umożliwia identyfikację obszarów nowotworowych w medycynie, nieniszczące badania materiałów w przemyśle, bądź też detekcję kształtu ukrytych przedmiotów dla potrzeb bezpieczeństwa.

  • Zakres częstości:  50 – 1500 GHz (1.6 – 50 cm-1) z opcją rozszerzenia zakresu do 2000 GHz.
  • Rozdzielczość: 100 MHz, z opcją do 4 MHz.
  • Stosunek sygnału do szumu w zakresie 100 – 1000 GHz: 60 dB dla 100 GHz, 50 dB dla 500 GHz, 30 dB dla 1000 GHz.

 

Informacje
  • TeraView